?3.影響貼片電容容值測量偏低的因素
?（1)測試儀器內(nèi)部的阻抗大小影響
? 由于不同的測試儀器之間的內(nèi)部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測試電容兩端的實際電壓變小。在實際的測試過程中，我們有必要先使用萬用表等工具測試夾具兩端的實際電壓，以確定加在測試貼片電容兩端的輸出電壓。
?（2）不同阻抗的測試儀器的輸出電壓對比如下：
? ?儀器內(nèi)阻100Ω
? ?1V*（100Ω/（100Ω+16Ω））=0.86V
? ?10uF測試電容的兩端電壓：
? ?1V*（16Ω/（100Ω+16Ω））=0.14V
? ?平均電容值讀數(shù)：6-7uF
? ?儀器內(nèi)阻 1.5Ω：
? ?1V*（1.5Ω/（1.5Ω+16Ω））=0.086V
? ?10uF測試電容兩端電壓：
?? 1V*（16Ω（1.5Ω+16Ω））=0.914V
?? 平均電容值讀數(shù)：9-10uF
?? 4. 測量環(huán)境條件對測量結(jié)果的影響
? ?貼片陶瓷電容系列產(chǎn)品被稱為非溫度補償性元件，即在不同的工作環(huán)境下，電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作環(huán)境下，電容標(biāo)稱值與實際容值之間的差異。例如，在40℃的測試容量將比25℃的測試容量低了接近20%。由此可見，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下，電容容值的測試值就會顯得偏低。我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時間，使材料處于穩(wěn)定的測試環(huán)境下在進行容值測試。
?? ?5、貼片陶瓷電容產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象
材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現(xiàn)象，這再所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。原因是因為內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后（建議進行容值恢復(fù)所使用之條件為150℃/1hour），當(dāng)環(huán)境溫度恢復(fù)到常溫后（常溫25℃下放置24小時）,材料的分子結(jié)構(gòu)將會回到原始的狀態(tài)。材料將由此開始老化的又一個循環(huán)，貼片電容的容值將恢復(fù)到正常規(guī)格之內(nèi)。
??? 用以上方式驗證，把測試容量偏低的電容器浸在錫爐或者回流焊后，再進行測試，容值會恢復(fù)到正常范圍之間。
